瑞萨电子推出了一款新型双面散热650V氮化镓(GaN)场效应晶体管,专为解决800V AI数据中心电源板面临的严峻散热和空间限制而设计。这种创新的散热方法显著提升了功率密度和热裕量,从而为高密度AI机架提供更高效的电力传输。
新型双面散热GaN FET概述
瑞萨电子推出了TP65H020G4PLSGBD,这是一款650V氮化镓(GaN)场效应晶体管(FET),具有开创性的双面散热机制。该器件专为800V AI数据中心电源板严苛的散热和空间限制而设计,旨在应对现代AI机架不断增长的功率需求。随着机架功率从约120 kW向兆瓦级规模扩展,高效的电力传输变得至关重要。目前,样品正分发至各大AI数据中心原始设备制造商(OEM)和原始设计制造商(ODM)。
热管理与封装创新
TP65H020G4PLSGBD最显著的创新在于其热架构。该器件采用紧凑的8x8 mm PQFN封装,占板面积比现有的10x15 mm TOLT封装缩小了57%。与传统的单面(顶部)散热元件单向散热不同,这款GaN FET从顶部和底部两个表面同时散热。据瑞萨电子介绍,这种双面散热方式使顶部热阻降低了10%。数据手册规定,通过顶部的结到壳热阻为0.36 °C/W,通过底部的结到壳热阻为2.8 °C/W。此外,该封装遵循行业标准占板面积,该标准是与主要AI基础设施客户共同制定的,确保了多供应商采购的灵活性。
架构设计与电气规格
该器件基于第四代+(Gen IV Plus)平台构建,将高压耗尽型GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)与低压硅MOSFET集成在一起。这种配置在提供GaN高开关速度的同时,确保了常关断工作模式,并与标准硅栅极驱动器兼容,无需负栅极偏置。关键电气规格包括:典型阈值电压为4V,推荐导通驱动电压为9V,典型导通电阻为20 mΩ(最大25 mΩ)。在壳温25°C时,连续漏极电流可达92 A,结温工作范围为-55°C至+150°C。此外,典型栅极电荷为19.6 nC,输出电荷为221 nC,内置续流二极管的反向恢复电荷几乎可以忽略不计,这有助于实现MHz级开关频率并减小无源元件的体积。该器件可阻断650V电压,并能承受低于10 µs的900V瞬态电压尖峰。
市场背景:800V AI数据中心的转型
这款GaN FET的推出契合了数据中心向800V高压直流(HVDC)配电方案转型的更广泛的行业趋势。AI机架正以空前的速度消耗电力,在达到电气极限之前,就已迅速耗尽了配电板上可用的物理空间和热裕量。通过瞄准800V DC/DC中间总线转换器级(将电压降至48V、12V或6V)以及侧挂式电源机架电池备份和电容组(CBU)级,瑞萨电子正将该器件置于下一代电源架构的核心位置。该公司还强调了其在电信电源、光伏逆变器、不间断电源、电动出行充电以及电池储能系统中的应用。
对功率密度与系统设计的影响
为了验证新器件的性能,瑞萨电子开发了一款由RA6T3 MCU控制的6 kW、800V转48V LLC DC变压器参考设计。该设计实现了高达2.6 kW/in³的卓越功率密度。单模块测试表明,与采用较大TOLT封装的同等电路板相比,满载效率提升了0.21%。除了效率提升外,封装尺寸的缩小显著节省了印刷电路板(PCB)空间,并实现了跨多个FET的更优化布局。通过将GaN FET与瑞萨的辅助控制器、栅极驱动器和微控制器相结合,该公司为向800V平台过渡的工程团队提供了一套全面的单供应商解决方案。
未来展望与生产路线图
TP65H020G4PLSGBD代表了一种战略性的权衡,用更小、高效的双面散热解决方案取代了更大、单面的热路径,同时保持了与现有硅栅极驱动器生态系统的兼容性。瑞萨电子计划于2026年10月12日至15日在圣何塞举行的OCP全球峰会上展示该器件。在与关键OEM和ODM完成当前的样品分发阶段后,量产正式定于2027年中期。随着高压转换器设计师在各大高功率领域应对日益严峻的密度和散热挑战,这款双面散热GaN FET的成功量产将成为电力电子行业的一个重要里程碑。